[实用新型]一种低温容器内全场温度测试装置有效

专利信息
申请号: 201721850946.2 申请日: 2017-12-26
公开(公告)号: CN207850546U 公开(公告)日: 2018-09-11
发明(设计)人: 黄欢明;门启明;杜柯江;李延铭;谭浩;张皓威 申请(专利权)人: 上海齐耀动力技术有限公司
主分类号: G01K1/02 分类号: G01K1/02;G01K13/00
代理公司: 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 代理人: 王法男
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种低温容器内全场温度测试装置,用于安装在低温容器内,包括若干个测温探头,若干个所述测温探头在同一平面上从上至下依次排列设置;一测温元件布点结构,所述测温元件布点结构包括一测温元件支架,所述测温元件支架用于连接若干个所述测温探头,并与所述低温容器进行固定连接;一测温元件引线,所述测温元件引线一端穿入所述测温元件支架内与所述测温探头连接,另一端通过一套设在外侧的引线保护管从所述低温容器内穿出,并与信号采集装置连接。本实用新型能够同时测量低温容器内多点温度,有效地在加注时对低温容器内部的温度分布数据进行准确的测量和采集,从而通过分析采集的温度数据达到改善低温液体的加注方式和策略。
搜索关键词: 测温元件 低温容器 测温探头 支架 温度测试装置 本实用新型 加注 温度分布数据 信号采集装置 采集 测量低温 从上至下 低温液体 温度数据 依次排列 有效地 穿出 穿入 测量 分析
【主权项】:
1.一种低温容器内全场温度测试装置,用于安装在低温容器内,其特征在于,包括:若干个测温探头,若干个所述测温探头处于同一平面上从上至下依次排列设置;一测温元件布点结构,所述测温元件布点结构包括一测温元件支架,所述测温元件支架用于连接若干个所述测温探头,并与所述低温容器进行固定连接;一测温元件引线,所述测温元件引线一端穿入所述测温元件支架内与所述测温探头连接,另一端通过一套设在外侧的引线保护管从所述低温容器内穿出,并与信号采集装置连接。
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