[实用新型]检测评估框架眼镜适配性用测量贴尺有效

专利信息
申请号: 201721755111.9 申请日: 2017-12-15
公开(公告)号: CN207799266U 公开(公告)日: 2018-08-31
发明(设计)人: 袁翌斐;王薇;李映昱;荆大兰 申请(专利权)人: 北京大学第三医院
主分类号: G02C13/00 分类号: G02C13/00
代理公司: 北京市商泰律师事务所 11255 代理人: 齐玲
地址: 100191 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种检测评估框架眼镜适配性用测量贴尺,是为实时检测和评估框架眼镜与配镜者头面部的适配效果而设计的。本测量贴尺上设有坐标线、等距的同心圆测圈、纵、横角度线、位移测线和等距的测量格线等,其在眼镜适配的过程中,被分别贴在框架眼镜和配镜者头面部皮肤上,在配镜者进行适当活动后,将偏移数据及验光数据代入数学模型运算,并根据计算结果评估眼镜的适配性。本贴尺是在视光学配镜技术领域中的首次应用,是眼镜适配效果评估技术的突破,是对保护人类视力发育和提高视觉功能方面的重要贡献。本实用新型设计科学、测量精准,操作方便,适用于不同环境下对配镜者头面部适配性的综合检测和评估,其应用可大幅度减少眼镜不适配的情况发生,社会效益和经济效益巨大。
搜索关键词: 配镜 框架眼镜 适配性 眼镜 评估 适配 本实用新型 测量 头面部 等距 同心圆 头面部皮肤 测量精准 偏移数据 实时检测 视觉功能 数学模型 效果评估 重要贡献 综合检测 验光 测量格 角度线 种检测 坐标线 测圈 测线 应用 运算 视力 发育 检测
【主权项】:
1.一种检测评估框架眼镜适配性用测量贴尺,其特征在于测量贴尺上设有坐标线、等距的同心圆测圈、纵、横角度线、位移测线和等距的测量格线等;在眼镜适配的过程中,贴尺作为坐标点和位移测量点被分别粘贴在框架眼镜和配镜者头面部皮肤上;在配镜者进行习惯性活动或完成标准动作后,测量贴尺与各位移测量点间会发生偏移,因此,操作者可将这些偏移数据及配镜者验光数据一同代入数学模型进行运算,并根据计算结果评估该框架眼镜与配镜者是否适配。
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