[实用新型]可自动开盖的芯片检测机构

摘要

本实用新型公开一种可自动开盖的芯片检测机构，其包括底板、转盘座、转盘、若干测试载具和开盖机构，所述转盘座、开盖机构均固定安装于底板上表面，所述转盘可转动的设置于转盘座上方，所述测试座嵌入载板的通孔内，所述测试板安装于载板下表面且位于测试座下方，所述载板一侧设置有一与卡扣对应的卡接部，所述开盖机构由安装板、气缸和活动板组成，所述气缸通过所述安装板安装于底板上表面且位于转盘一侧，所述活动板通过一连接块与气缸的活塞杆固定连接，此活动板用于与测试载具卡扣的按压部接触连接。本实用新型通过开盖机构与测试载具卡扣的按压部设置，可以实现对测试载具压板的自动打开，代替人工，大大节约了劳动力，提高工作效率。

主权项

1.一种可自动开盖的芯片检测机构，其特征在于：包括底板（1）、转盘座（2）、转盘（3）、若干测试载具（4）和开盖机构（5），所述转盘座（2）、开盖机构（5）均固定安装于底板（1）上表面，所述转盘（3）可转动的设置于转盘座（2）上方，所述若干测试载具（4）沿周向均匀设置于转盘（3）上表面；所述测试载具（4）进一步包括PCB板（401）、载板（402）、测试板（403）、测试座（404）和压板（405），所述压板（405）通过一安装柄与载板（402）活动连接，所述测试座（404）嵌入载板（402）的通孔内，所述测试板（403）安装于载板（402）下表面且位于测试座（404）下方，所述PCB板（401）设置于载板（402）下表面；所述压板（405）一侧具有一缺口部（413），此缺口部（413）内活动安装有一卡扣（414），所述载板（402）一侧设置有一与卡扣（414）对应的卡接部（415），此卡接部（415）位于卡扣（414）正下方，所述卡扣（414）通过一转轴（418）活动安装于压板（405）的缺口部（413）内且卡扣（414）可绕转轴（418）旋转，所述卡扣（414）进一步包括卡钩部（416）和按压部（417），所述卡扣（414）的卡钩部（416）用于与卡接部（415）扣接；所述开盖机构（5）由安装板（501）、气缸（502）和活动板（503）组成，所述气缸（502）通过所述安装板（501）安装于底板（1）上表面且位于转盘（3）一侧，所述活动板（503）通过一连接块与气缸（502）的活塞杆固定连接，此活动板（503）用于与测试载具（4）卡扣（414）的按压部（417）接触连接。