[实用新型]一种磁片通止规

摘要

本实用新型涉及一种磁片通止规，包括固定座、检测座，所述检测座为工字型结构设置，工字型结构中一侧面为向外突的弧面，一侧面为向内凹的弧面，两者相对设置，检测座一端设有通槽a、通槽b、灯具开关，另一端与固定座连接固定，所述固定座上连接固定有LED灯带，LED灯带分别设置于固定座与检测座连接固定的端面的两侧，贴近检测座的弧面，所述通槽a、通槽b内分别设有与之相配合的推块，所述推块连接固定推杆，推杆远离推块一端设有推座。由于采用了上述技术方案，增加了推块及用于检测磁片弧度的向外突的弧面、向内凹的弧面，推块可将卡置于通槽a、通槽b内的磁片顶出，向外突的弧面、向内凹的弧面配合LED灯带检测磁片的弧面是否合格。

主权项

1.一种磁片通止规，包括固定座（1）、检测座（2），其特征在于：所述检测座（2）为工字型结构设置，工字型结构中一侧面为向外突的弧面（24），一侧面为向内凹的弧面（25），两者相对设置，检测座（2）一端设有通槽a（21）、通槽b（22）、灯具开关（23），另一端与固定座（1）连接固定，所述固定座（1）上连接固定有LED灯带（3），LED灯带（3）分别设置于固定座（1）与检测座（2）连接固定的端面的两侧，且贴近检测座（2）的弧面，所述通槽a（21）、通槽b（22）内分别设有与之相配合的推块（4），所述推块（4）连接固定推杆（41），所述推杆（41）穿过固定座（1），推杆（41）远离推块（4）一端设有推座（42）。