[实用新型]一种用于集成电路测试中信号采集的系统有效
| 申请号： | 201721342083.8 | 申请日： | 2017-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN207571261U | 公开（公告）日： | 2018-07-03 |
| 发明（设计）人： | 闫肃;陈跃俊;刘惠鹏 | 申请（专利权）人： | 北京华峰测控技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 | 代理人： | 韩登营;曲芳兵 |
| 地址： | 100070 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种用于集成电路测试中信号采集的系统，包括：信号发生器，用于输出于第一设定时间触发的第一激励信号和于第二设定时间触发的数据采集及存储的第二激励信号；待测试的所述集成电路，与所述信号发生器耦接，用于接收所述第一激励信号并据此生成并输出信号；信号采集器，与所述信号发生器和所述集成电路分别耦接，分别用于接收所述第二激励信号和所述集成电路的输出信号，并在接收到所述第二激励信号后对所述集成电路的输出信号进行采集及存储。由上，本申请可以在集成电路测试中提高测试分辨率和测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 激励信号 集成电路测试 信号发生器 集成电路 输出信号 时间触发 信号采集 耦接 存储 测试 测试分辨率 信号采集器 数据采集 申请 采集 输出 | ||
【主权项】：
1.一种用于集成电路测试中信号采集的系统，其特征在于，包括：信号发生器，用于输出于第一设定时间触发的第一激励信号和于第二设定时间触发的数据采集及存储的第二激励信号；待测试的所述集成电路，与所述信号发生器耦接，用于接收所述第一激励信号并据此生成并输出信号；信号采集器，与所述信号发生器和所述集成电路分别耦接，分别用于接收所述第二激励信号和所述集成电路的输出信号，并在接收到所述第二激励信号后对所述集成电路的输出信号进行采集及存储。
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