[实用新型]电子组件测试装置及其系统

摘要

一种电子组件测试系统，适用于对电子组件进行测试，该电子组件具有一电路基体部，及数个设置于该电路基体部上的电性接触部。该电子组件测试系统包含一以金属材质制成并与该电路基体部直接接触的测试座、一设置于该测试座上的加热器，及多个穿设于该测试座中的弹簧探针。该测试座包括一个具有多个间隔设置且沿一延伸方向贯穿的穿孔的本体，及一安装于该本体的温度传感器。该加热器用于加热该测试座以使热能经由该测试座传导至该电子组件而提升该电子组件的温度。所述弹簧探针分别定位于所述穿孔中，用于与所述电性接触部电性连接。

主权项

一种电子组件测试系统，适用于对一电子组件进行测试，该电子组件具有一个电路基体部，及多个设置于该电路基体部上的电性接触部；其特征在于：该电子组件测试系统包含：一个测试座，以金属材质制成，并与该电子组件的电路基体部直接接触，该测试座包括一个具有多个间隔设置且沿一个延伸方向贯穿的穿孔的本体，及一个安装于该本体的温度传感器；一个加热器，设置于该测试座上，用于加热该测试座以使热能经由该测试座传导至该电子组件而提升该电子组件的温度；及多个弹簧探针，穿设于该测试座中并分别定位于所述穿孔中，用于与该电子组件的电性接触部电性连接。