[实用新型]非接触式光学透镜中心厚度测量装置有效

专利信息
申请号: 201721154914.9 申请日: 2017-09-11
公开(公告)号: CN207113803U 公开(公告)日: 2018-03-16
发明(设计)人: 王伟;徐敏 申请(专利权)人: 浙江光策光电技术有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙)33217 代理人: 武洪雨
地址: 314213 浙江省嘉*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型提供的非接触式光学透镜中心厚度测量装置,旨在解决现有技术中非接触式测量装置测量精度低、结构不合理的技术问题。本实用新型提供的非接触式光学透镜中心厚度测量装置,在测量光学透镜的中心厚度时不与光学透镜接触,而是利用光学方法进行测量,在测量过程中测量精度高且不会损坏或划伤光学透镜,提高了光学透镜的测量效率,并且具有较高的测量精度。处理器用于对数据采集器采集到的数据进行处理,处理结果可以直观地呈现于技术人员,优化了测量装置的使用性能。参考反射镜由电机驱动,并沿导轨移动,参考反射镜的位置调节方便,并且采用电机驱动,参考反射镜的移动精度高,进而提高了测量装置的测量精度。
搜索关键词: 接触 光学 透镜 中心 厚度 测量 装置
【主权项】:
非接触式光学透镜中心厚度测量装置,包括机架(1),其特征在于:在所述机架(1)上固定有可见光源(2)、第一隔离器(3)、波分复用器(4)、测量镜头(5)、被测透镜(6)、SLD红外光源(7)、第二隔离器(8)、第一分光耦合器(9)、第一环路滤波器(10)、数据采集器(11)、平衡探测器(12)、第二分光耦合器(13)、第二环路滤波器(14)、准直镜头(15)和参考反射镜(16);所述可见光源(2)发出的光线经第一隔离器(3)进入波分复用器(4);所述SLD红外光源(7)发出的光线经第二隔离器(8)进入第一分光耦合器(9),第一分光耦合器(9)将经第二隔离器(8)射入的SLD红外光线分为两路,第一分光耦合器(9)射出的两路光线分别进入第一环路滤波器(10)、第二环路滤波器(14);第一环路滤波器(10)射出的SLD红外光线进入波分复用器(4)并与第一隔离器(3)射入的光线耦合,被波分复用器(4)耦合的光线经测量镜头(5)射入被测透镜(6),被测透镜(6)反射回来的光线依次经测量镜头(5)、波分复用器(4)、第一环路滤波器(10)进入第二分光耦合器(13);第二环路滤波器(14)射出的SLD红外光线经准直镜头(15)射入参考反射镜(16),经参考反射镜(16)反射回来的光线依次经准直镜头(15)、第二环路滤波器(14)进入第二分光耦合器(13);由参考反射镜(16)反射回来的光线和由被测透镜(6)反射回来的光线经第二分光耦合器(13)后进入平衡探测器(12);所述平衡探测器(12)与数据采集器(11)通讯;该测量装置还包括对数据采集器(11)采集到的数据进行处理的处理器,所述处理器与所述数据采集器(11)通讯;所述机架(1)上设置有导轨(17),所述参考反射镜(16)滑动连接在所述导轨(17)上,所述参考反射镜(16)由电机(18)驱动其沿导轨(17)移动。
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