[实用新型]量具校正的框规有效

专利信息
申请号: 201721033411.6 申请日: 2017-08-17
公开(公告)号: CN207050685U 公开(公告)日: 2018-02-27
发明(设计)人: 廖备铨 申请(专利权)人: 厦门众翰精密工业有限公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00;G01B5/00
代理公司: 昆明合众智信知识产权事务所53113 代理人: 张玺
地址: 361000 福建省厦门*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 一种量具校正的框规,其包括硬铝底座及装于底座上的若干对块规,若干对块规之间间隔平行分布于硬铝底座上,而相邻的两对块规的测量长度不等,形成具有多个测量尺寸的框规结构;各对块规包括两块块规且两块规间隔分布于同一直线上,进而两块规之间形成校正区域。本实用新型的框规可校正量具,调整量具参数,从而有效减小测量误差,确保尺寸更精确,从而确保产品质量。
搜索关键词: 量具 校正
【主权项】:
量具校正的框规,其特征在于:其包括硬铝底座及装于底座上的若干对块规,若干对块规之间间隔平行分布于硬铝底座上,而相邻的两对块规的测量长度不等,形成具有多个测量尺寸的框规结构;各对块规包括两块块规且两块规间隔分布于同一直线上,进而两块规之间形成校正区域。
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