[实用新型]磁阻法测厚仪有效
| 申请号： | 201720804203.5 | 申请日： | 2017-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN207050658U | 公开（公告）日： | 2018-02-27 |
| 发明（设计）人： | 谢洁填;郝星星 | 申请（专利权）人： | 中设（深圳）设备检验检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/06 | 分类号： | G01B7/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518112 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种磁阻法测厚仪，针对探头位置不准确影响检测精度的问题，提供了以下技术方案，包括壳体，壳体上设有具有检测线圈的探头，探头内设有用于检测探头内光线强弱以输出光强检测信号的光强检测电路，光强检测电路电性连接有比较光强检测信号小于光强基准信号以输出盖合信号的比较电路，比较电路电性连接有响应于盖合信号导通以控制检测线圈开始检测的开关电路；当探头完全罩住涂层时，无光线进入探头内被光强检测电路检测到，光强检测信号小于光强基准信号，比较电路输出代表探头已经放置好的盖合信号，继而开关电路响应于盖合信号导通以控制检测线圈输出检测信号，从而仅仅在探头位置放置准确的情况下才进行检测，检测更加精确。 | ||
| 搜索关键词： | 磁阻 测厚仪 | ||
【主权项】：
一种磁阻法测厚仪，其特征是：包括壳体(1)，所述壳体(1)上设有具有检测线圈(6)的探头(2)，所述探头(2)内设有用于检测探头(2)内光线强弱以输出光强检测信号的光强检测电路(3)，所述光强检测电路(3)电性连接有比较光强检测信号小于光强基准信号以输出盖合信号的比较电路(4)，所述比较电路(4)电性连接有响应于盖合信号导通以控制检测线圈(6)开始检测的开关电路(5)。
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