[实用新型]用于多光谱光电设备光路同轴调试的一体化靶标有效

专利信息
申请号: 201720656369.7 申请日: 2017-06-07
公开(公告)号: CN206960756U 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 李觊;张宏坤;李彦生;蔡顺文;周燕;李晓斌;崔玉舸;姚亮亮;于振龙 申请(专利权)人: 昆明北方红外技术股份有限公司
主分类号: G02B7/00 分类号: G02B7/00;G02B23/00
代理公司: 昆明祥和知识产权代理有限公司53114 代理人: 施建辉
地址: 650217 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 用于多光谱光电设备光路同轴调试的一体化靶标,涉及光谱调试,尤其是一种将多个不同光谱的靶标整合到一个靶标上,实现多功能多光谱同轴调试的用于多光谱光电设备光路同轴调试的一体化靶标。本实用新型包括框架、靶标以及激光显影卡,框架呈圆形,圆心处设置有方形开口,靶标通体由发热材料制作,固定在框架的圆心位置,激光显影卡设置在框架内部且位于靶标后方。本实用新型根据现有多光谱光电设备的光路特性,通过靶标的框架、发热材料制成的靶标以及激光显影卡,同时实现可见光、红外热成像光以及激光测距光路的观测调试,提供了一个高效的调试用靶标,而且与以往调试方法相比较,还提高了调试同轴度的精度。
搜索关键词: 用于 光谱 光电 设备 同轴 调试 一体化 靶标
【主权项】:
一种用于多光谱光电设备光路同轴调试的一体化靶标,其特征在于该靶标包括框架(4)、靶标(3)以及激光显影卡,框架(4)呈圆形,圆心处设置有方形开口,靶标(3)通体由发热材料制作,固定在框架(4)的圆心位置,激光显影卡设置框架(4)内部且位于靶标(3)后方。
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