[实用新型]提高空间分辨率的二维角分辨质子谱仪有效

专利信息
申请号: 201720449756.3 申请日: 2017-04-26
公开(公告)号: CN207458889U 公开(公告)日: 2018-06-05
发明(设计)人: 杨骕;邓彦卿;远晓辉;方远;葛绪雷;魏文青;高健;刘峰;盛政明;张杰 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: H01J49/26 分类号: H01J49/26
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型提供一种提高空间分辨率的二维角分辨质子谱仪,包括外壳以及设置在外壳内的金属薄片、磁铁组件及质子探测屏幕;其中金属薄片设置在质子束的入射路径上,在金属薄片上设有入射孔,入射孔为点阵结构;磁铁组件包括两块平行间隔设置的异名磁极磁铁,质子束的入射路径穿过两块异名磁极磁铁之间;质子探测屏幕设置在质子束的入射路径上。本实用新型的有益效果如下:为了提高谱仪的空间分辨率,对原先的二维角分辨质子谱仪进行了改进:将针孔在一维方向上加密,使质子束信号的空间分辨角度由之前的1.9°提高到0.285°。这样能够探测更为直观的质子空间分布信息,对于激光驱动质子加速的研究起到重要的作用。
搜索关键词: 质子束 质子 空间分辨率 金属薄片 角分辨 质子谱 二维 入射 本实用新型 探测 磁铁组件 异名磁极 入射孔 磁铁 针孔 空间分布信息 平行间隔设置 点阵结构 激光驱动 空间分辨 路径穿过 屏幕设置 加密 直观 屏幕 改进 研究
【主权项】:
一种提高空间分辨率的二维角分辨质子谱仪,其特征在于,包括外壳以及设置在所述外壳内的金属薄片、磁铁组件及质子探测屏幕;其中所述金属薄片设置在质子束的入射路径上,在所述金属薄片上设有入射孔,所述入射孔为点阵结构;所述磁铁组件包括两块平行间隔设置的异名磁极磁铁,所述质子束的入射路径穿过两块所述异名磁极磁铁之间;所述质子探测屏幕设置在所述质子束的入射路径上;所述入射孔为二维点阵结构;其中多个所述入射孔排列成孔列,多条孔列平行间隔设置;所述孔列与竖直方向的夹角θr为21度。
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