[实用新型]一种光学加工过程中三坐标测量用的定位夹具有效

专利信息
申请号: 201720386891.8 申请日: 2017-04-13
公开(公告)号: CN206648626U 公开(公告)日: 2017-11-17
发明(设计)人: 陈曦;郭培基 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙)32260 代理人: 张欢勇,王利斌
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种光学加工过程中三坐标测量用的定位夹具,属于三坐标测量领域,采用可旋转的L形直角定位尺、带有偏心孔的定位圆柱、定位芯轴组合成用于三坐标测量光学元件的定位夹具,适用于对不同尺寸的圆柱形光学元件以及不同尺寸的矩形光学元件的定位。用该技术方案的定位夹具定位更加便捷,避免了操作的不确定性造成的检测结果的差异性;节约了人工操作找正工件的时间,在批量测量过程中可实现不停机连续测量,提高了测量效率。
搜索关键词: 一种 光学 加工 过程 坐标 测量 定位 夹具
【主权项】:
一种光学加工过程中三坐标测量用的定位夹具,包括定位底板(1)、第一定位芯轴(3)、第二定位芯轴(31)、L形直角定位尺(4),其特征在于:所述定位底板(1)上均匀设置有若干排螺纹孔(11),所述第一定位芯轴(3)与第二定位芯轴(31)的一端设置有与所述定位底板(1)上的螺纹孔(11)对应的外螺纹,所述L形直角定位尺(4)的两条直边相交处外侧与第二定位芯轴(31)用焊接方式固定连接,所述第一定位芯轴(3)与第二定位芯轴(31)有螺纹一端分别与所述定位底板(1)上的螺纹孔连接。
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