[实用新型]一种集成电路监控测试系统有效
| 申请号： | 201720325654.0 | 申请日： | 2017-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN206649123U | 公开（公告）日： | 2017-11-17 |
| 发明（设计）人： | 周国超 | 申请（专利权）人： | 武汉梦芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司11212 | 代理人： | 杨立,朱毅 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种集成电路监控测试系统，包括上位机、微控制器和待测集成电路；上位机与微控制器通信连接；微控制器与待测集成电路分别通过应答接口、通用异步接收器‑发射器接口和主从式总线接口通信连接。本实用新型可对被测集成电路进行自动化测试并实时记录集成电路内部工作状态，可实现对集成电路故障状态的定位。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 监控 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种待测集成电路监控测试系统，其特征在于，包括：上位机(1)、微控制器(2)和待测集成电路(3)；所述上位机(1)与所述微控制器(2)通信连接；所述微控制器(2)与所述待测集成电路(3)分别通过应答接口、通用异步接收器‑发射器接口和主从式总线接口通信连接。
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