[实用新型]基于光学测微原理的高精度量尺有效
申请号: | 201720239156.4 | 申请日: | 2017-03-13 |
公开(公告)号: | CN206514818U | 公开(公告)日: | 2017-09-22 |
发明(设计)人: | 廖孟光;李羲;李朝奎;易四海 | 申请(专利权)人: | 湖南科技大学 |
主分类号: | G01B11/08 | 分类号: | G01B11/08;G01B11/12 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 411201 *** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本实用新型公开了基于光学测微原理的高精度量尺,所要解决的问题是如何精确测量隧道、桥洞、房屋、车辆、大型仪器等内外径尺寸。该量尺基于光学测微原理的高精度量尺,包括若干短尺和光学测微器,短尺按其横截面大小共轴地串接成一伸缩体,光学测微器安装在两段短尺连接处横截面较大的短尺上,对准横截面较小的短尺上的刻度,量尺两端平行轴线方向各具有长度一定的内测端,垂直轴线方向各具有长度一定的外测端。伸开量尺,使其内测端抵住空间内壁或者外测端夹住物体外径,因此量尺长度严格为两端点之间距离,同时光学测微器精度很高,共同保证了测量的精度。 | ||
搜索关键词: | 基于 光学 原理 高精度 | ||
【主权项】:
基于光学测微原理的高精度量尺,其特征为包括若干短尺和光学测微器,短尺按其横截面大小共轴地串接成一伸缩体,光学测微器安装在两段短尺连接处横截面较大的短尺上,对准横截面较小的短尺上的刻度,量尺两端平行轴线方向各具有长度一定的内测端,垂直轴线方向各具有长度一定的外测端。
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