[实用新型]老化测试扩展板有效
| 申请号： | 201720098387.8 | 申请日： | 2017-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN206420913U | 公开（公告）日： | 2017-08-18 |
| 发明（设计）人： | 赵广艳 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（北京）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所31219 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 100176 北京市大兴*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种老化测试扩展板，包括扩展板主体，所述扩展板主体内包括第一插接区域，适于插接用于老化测试的待测器件的插座；第二插接区域，适于插接用于老化测试的待测器件的插座；转接区域，位于所述第一插接区域与所述第二插接区域之间，且与所述第一插接区域及所述第二插接区域相连接，适于将所述第一插接区域及所述第二插接区域相连接。本实用新型的老化测试扩展板可以与现有的老化测试板及待测器件底座配合使用，资源容量至少相当于现有老化测试板的两倍，从而增加了一次老化测试中的待测器件的数量，缩短了产品测试验证周期；本实用新型的老化测试扩展板还具有结构简单、公用性强等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 测试 扩展 | ||
【主权项】：
一种老化测试扩展板，其特征在于，所述老化测试扩展板包括扩展板主体，所述扩展板主体内包括：第一插接区域，适于插接用于老化测试的待测器件的插座；第二插接区域，适于插接用于老化测试的待测器件的插座；转接区域，位于所述第一插接区域与所述第二插接区域之间，且与所述第一插接区域及所述第二插接区域相连接，适于将所述第一插接区域及所述第二插接区域相连接。
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