[实用新型]防污染垂直层析检测装置有效
申请号: | 201720093624.1 | 申请日: | 2017-01-22 |
公开(公告)号: | CN206505078U | 公开(公告)日: | 2017-09-19 |
发明(设计)人: | 陆易鑫;陈梁;汪大明;白佳委 | 申请(专利权)人: | 英科新创(厦门)科技有限公司 |
主分类号: | G01N33/48 | 分类号: | G01N33/48 |
代理公司: | 厦门市首创君合专利事务所有限公司35204 | 代理人: | 张松亭,姜谧 |
地址: | 361000 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种防污染垂直层析检测装置,包括一样本采集组件、一流控组件和一检测组件,样本采集组件设于流控组件的流控上件的上方,且出样孔与取样凸起相对应;流控组件的流控下件盖设于检测组件的筒状本体的上开口,且每一下接通孔均对应一层析试条的加样区。 | ||
搜索关键词: | 污染 垂直 层析 检测 装置 | ||
【主权项】:
防污染垂直层析检测装置,其特征在于:包括一样本采集组件,包括一容置腔体、一上盖和一弹性软塞,该容置腔体具有一上开口和一下开口,上盖封闭上开口,弹性软塞封闭下开口,且弹性软塞具有一保持常闭状态的出样孔;一流控组件,包括相互转动配合的一流控上件和一流控下件;流控上件的上端具有一取样凸起,流控上件内具有一空腔,取样凸起的顶端具有一连通该空腔的进样孔,该空腔的底面具有若干环形阵列排排布的上接通孔;流控下件具有对应上接通孔的若干环形阵列排布的下接通孔;流控上件相对流控下件具有一第一位置和一第二位置,当位于第一位置时,上接通孔和下接通孔相互对准连通,当位于第二位置时,上接通孔和下接通孔相互错开并使得上接通孔封闭;和一检测组件,包括一下端封闭上端开口的透明的筒状本体和与下接通孔数量相同的层析试条,该筒状本体为透明材质,其内侧壁设有与层析试条的数量相同的若干阵列排布的定位卡槽,层析试条置于相应的定位卡槽中;上述样本采集组件设于流控组件的流控上件的上方,且出样孔与取样凸起相对应;流控组件的流控下件盖设于检测组件的筒状本体的上开口,且每一下接通孔均对应一层析试条的加样区。
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