[实用新型]一种轨道电路一次参数测试仪有效
| 申请号： | 201720093550.1 | 申请日： | 2017-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN206557333U | 公开（公告）日： | 2017-10-13 |
| 发明（设计）人： | 鲍小飞;范雪芳;徐文孝 | 申请（专利权）人： | 浙江兰科电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 321100 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种轨道电路一次参数测试仪，包括MCU控制、上位机、负载控制和测量电路，所述的MCU控制模块连接有上位机、面板输入与显示模块和负载控制，MCU控制通过串口通讯连接测量电路，所述的MCU控制上还设有正弦波信号源、功放电路和幅度调节电路，功放电路连接轨道。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 轨道电路 一次 参数 测试仪 | ||
【主权项】：
一种轨道电路一次参数测试仪，包括MCU控制模块（1）、上位机（2）、负载控制（3）和测量电路（4），其特征在于，所述的MCU控制模块（1）连接有上位机（2）、面板输入与显示模块（5）和负载控制（3），MCU控制模块（1）通过串口通讯连接测量电路（4），所述的MCU控制模块（1）上还设有正弦波信号源（6）、功放电路（7）和幅度调节电路（8），功放电路（7）连接轨道（9）。
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