[实用新型]一种适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台有效
申请号: | 201720049567.7 | 申请日: | 2017-01-16 |
公开(公告)号: | CN206450595U | 公开(公告)日: | 2017-08-29 |
发明(设计)人: | 黄青;王纯阳 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | G01N21/359 | 分类号: | G01N21/359;G01N21/3563 |
代理公司: | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙)34124 | 代理人: | 王志兴 |
地址: | 230031 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台,包括光谱测量载物台,所述光谱测量载物台的上表面开有第一凹槽,所述第一凹槽内还设有带有透光孔的第二凹槽。本实用新型的优点在于提供了一种结构简单、操作方便、测量效率高的适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台,配合NIR透射光谱仪使用,使用时,将单粒稻谷种子置于第二凹槽上,由于其与单粒稻谷种子的外形相配合且短轴直径略小于单粒稻谷种子的1/2高度,能将种子完全契合地固定于第二凹槽中,同时又不阻碍光信号对整个种子照射及穿透,再结合透光孔的位置及尺寸设计,又能完全保证测量时不会“漏光”,可减少测量误差并提高灵敏度。 | ||
搜索关键词: | 一种 适用于 稻谷 种子 nir 透射 光谱 测量 载物台 | ||
【主权项】:
一种适用于单粒稻谷种子的NIR透射光谱测量载物台,其特征在于,包括光谱测量载物台,所述光谱测量载物台的上表面开有第一凹槽,所述第一凹槽内还设有带有透光孔的第二凹槽。
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