[发明专利]漫反射光谱中抑制温度干扰的方法、光谱分析方法及装置有效

专利信息
申请号: 201711473774.6 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN109991194B 公开(公告)日: 2022-04-26
发明(设计)人: 吴明磊;刘蓉;徐可欣 申请(专利权)人: 天津先阳科技发展有限公司
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 300192 天津市滨海新*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 本公开提供一种漫反射光谱中抑制温度干扰的方法、光谱分析方法及装置,包括:确定温度干扰因素对光谱测量的干扰模式;所述干扰模式包括:源‑探测器距离的改变;基于所述干扰模式,确定所述源‑探测器距离的特殊值,使漫反射光谱在所述源‑探测器距离的特殊值下抑制了温度干扰因素对光谱测量的干扰。利用温度不敏感源‑探测器距离处不包含温度干扰的信息,选取温度不敏感源‑探测器距离进行漫反射光谱分析可以有效避免温度变化的干扰,提高分析结果的可靠性;并且整个过程简单、方便;同时应用范围广泛。
搜索关键词: 漫反射 光谱 抑制 温度 干扰 方法 光谱分析 装置
【主权项】:
1.一种漫反射光谱中抑制温度干扰的方法,包括:确定温度干扰因素对光谱测量的干扰模式;所述干扰模式包括:源‑探测器距离的改变;基于所述干扰模式,确定所述源‑探测器距离的特殊值,使漫反射光谱在所述源‑探测器距离的特殊值下抑制了温度干扰因素对光谱测量的干扰。
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