[发明专利]基于反射式交叠衍射成像的相位恢复算法在审
申请号: | 201711454458.4 | 申请日: | 2017-12-28 |
公开(公告)号: | CN108204949A | 公开(公告)日: | 2018-06-26 |
发明(设计)人: | 高志山;黄嘉铃;窦健泰;袁群;陈铭;殷慧敏;倪瑞沪 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/47 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 朱沉雁 |
地址: | 210094 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于反射式交叠衍射成像的相位恢复算法,基于搭建反射式交叠衍射成像装置,在反射位置放置待测物体,使待测物体相对照明光逐行逐列地进行移动,在CCD靶面采集样品的衍射图样,取下待测物体,在反射位置放置反射镜,在CCD靶面采集照明光经过反射后的衍射图样,利用两次PIE算法,最终获得待测样品的相位信息。本发明具有无透镜成像,视场宽,收敛快,可检测反射式样品的优点。 | ||
搜索关键词: | 反射式 待测物体 交叠 相位恢复算法 反射位置 衍射成像 衍射图样 照明光 采集 衍射成像装置 无透镜成像 待测样品 相位信息 逐行逐列 反射镜 可检测 取下 视场 算法 反射 收敛 移动 | ||
【主权项】:
1.一种基于反射式交叠衍射成像的相位恢复算法,其特征在于,算法步骤如下:步骤1、搭建反射式交叠衍射成像装置:反射式交叠衍射成像装置包括光源(1)、X‑Y平移台(2)、待测样品(3)、反射镜(4)和CCD(5),沿光路方向依次设置光源(1)、X‑Y平移台(2)和CCD(5);反射镜(4)和待测样品(3)不同时设置在X‑Y平移台(2)上,光源(1)与CCD(5)处于同一水平高度;步骤2、打开光源(1),将待测样品(3)置于X‑Y平移台(2)上,光源(1)以入射角θ入射到待测样品(3)上,反射光线被CCD(5)接收,调整X‑Y平移台(2),使得待测样品(3)相对于光源(1)逐行逐列地进行移动,移动间隔L小于CCD(5)靶面尺寸的0.4倍,每次移动间隔相等,每次移动后在CCD(5)靶面上接收到1幅衍射图样,总共采集M幅衍射图样,M≥2;步骤3、取下待测样品(3),将反射镜(4)置于X‑Y平移台(2)上,光源以入射角θ入射到反射镜(4)上,反射光线被CCD(5)接收,在CCD(5)靶面上采集到1幅光源直接反射后的衍射图样;步骤4、利用PIE算法处理步骤2中得到的M幅待测样品(3)衍射图样和步骤3中得到的光源衍射图样,恢复光源信息和待测样品的信息。
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