[发明专利]一种用于磁共振成像的局部匀场系统及匀场方法有效
| 申请号： | 201711420310.9 | 申请日： | 2017-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN108387857B | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 李烨;陈巧燕;李柔;罗超;文剑洪;邹超;刘新 | 申请（专利权）人： | 深圳先进技术研究院 |
| 主分类号： | G01R33/567 | 分类号： | G01R33/567 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 潘登 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于磁共振成像的局部匀场系统及匀场方法。具体地，本发明提供了一种用于磁共振成像的匀场方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：采用二维梯度回波采集B0场图信息；计算并评估B0的均匀度；优化每通道匀场线圈的电流；判定是否获得Δf的最小标准偏差值；输出最优电流组合值，并在电流控制软件上设置每通道匀场线圈对应的最优电流值；以及测试并评估B0的均匀度，实现匀场目标。本发明还提供了用于磁共振成像的匀场系统。这种设计用较少通道数的匀场线圈实现较好的匀场效果，系统较为简单，成本相对低；并且提供的匀场方法较为简便，耗时相对较短；同时该系统适用于磁共振温度成像，提高了测温的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 磁共振 成像 局部 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于磁共振成像的匀场方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：采用二维梯度回波采集B0场图信息；计算并评估B0的均匀度；优化每通道匀场线圈的电流；判定是否获得Δf的最小标准偏差值；输出最优电流组合值，并在电流控制软件上设置每通道匀场线圈对应的最优电流值；以及测试并评估B0的均匀度，实现匀场目标。
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