[发明专利]双进料测试处理系统在审
申请号: | 201711419809.8 | 申请日: | 2017-12-25 |
公开(公告)号: | CN108263843A | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
发明(设计)人: | 张祖轁;郑志华;刘启峰 | 申请(专利权)人: | 先进科技新加坡有限公司 |
主分类号: | B65G47/80 | 分类号: | B65G47/80;B65G47/90 |
代理公司: | 北京申翔知识产权代理有限公司 11214 | 代理人: | 艾晶 |
地址: | 新加坡义*** | 国省代码: | 新加坡;SG |
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摘要: | 一种用于测试电子部件的测试处理机包括:用于传送电子部件的旋转转台以及第一输入站和第二输入站,每个输入站可操作以分别将电子部件送入到传送电子部件的所述旋转转台。仅从所述第一输入站送入的电子部件在包括多个第一测试平台的第一组测试站进行测试,仅从所述第二输入站送入的电子部件在包括多个第二测试平台的第二组第二测试站进行测试。为了从所述旋转转台移出电子部件,第一卸载站接收仅从第一输入站送入的电子部件,第二卸载站接收仅从第二输入站送入的电子部件。 | ||
搜索关键词: | 电子部件 输入站 送入 旋转转台 测试平台 测试站 卸载站 传送 测试电子部件 测试处理机 测试 测试处理 可操作 移出 | ||
【主权项】:
1.一种用于测试电子部件的测试处理机,其特征在于,包括:旋转转台,用于传送电子部件;第一输入站和第二输入站,每个输入站可操作以分别将所述电子部件送入到用于传送所述电子部件的所述旋转转台;第一组测试站和第二组第二测试站,所述第一组测试站包括多个第一测试平台,所述第一测试平台用于测试仅从所述第一输入站送入的电子部件,所述第二组第二测试站包括多个第二测试平台,所述第二测试平台用于测试仅从所述第二输入站送入的电子部件;和第一卸载站和第二卸载站,所述第一卸载站可操作以接收仅从所述第一输入站送入的电子部件,所述第二卸载站可操作以接收仅从所述第二输入站送入的电子部件,所述第一卸载站和所述第二卸载站用于从所述旋转转台移出所述电子部件。
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