[发明专利]一种SDK的测试方法和系统在审

专利信息
申请号: 201711408941.9 申请日: 2017-12-22
公开(公告)号: CN109960644A 公开(公告)日: 2019-07-02
发明(设计)人: 喻胜 申请(专利权)人: 北京奇虎科技有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 权鲜枝;何立春
地址: 100088 北京市西城区新*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种SDK的测试方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质。该方法包括:当接收到包括第一测试ID的测试开始指令时,根据与第一测试ID匹配的测试用例,生成与第一测试ID对应的测试数据和对应的配置文件;响应于待测试的SDK发送的获取测试数据的请求,将所生成的测试数据发送给待测试的SDK;根据测试用例,向待测试的SDK发送控制信号,以便待测试的SDK根据控制信号完成对测试数据的操作,生成打点数据;根据配置文件,获取待测试的SDK生成的打点数据进行保存;本次测试结束后,根据测试用例,对保存的打点数据进行校验。通过本技术方案,保证对SDK测试的准确性;省时省力,提高SDK测试的效率。
搜索关键词: 测试 测试数据 打点 配置文件 计算机可读存储介质 电子设备 发送控制 开始指令 控制信号 校验 保存 省力 省时 发送 响应 保证
【主权项】:
1.一种SDK的测试方法,其中,所述SDK用于集成到终端侧的应用程序中实现指定功能,该方法包括:当接收到包括第一测试ID的测试开始指令时,根据与所述第一测试ID匹配的测试用例,生成与所述第一测试ID对应的测试数据和对应的配置文件;响应于待测试的SDK发送的获取测试数据的请求,将所生成的测试数据发送给所述待测试的SDK;根据与所述第一测试ID匹配的测试用例,向所述待测试的SDK发送控制信号,以便所述待测试的SDK调用预先集成的测试模拟程序,根据所述控制信号完成对所述测试数据的操作,生成打点数据;根据所述配置文件,获取所述待测试的SDK生成的打点数据进行保存;本次测试结束后,根据与所述第一测试ID匹配的测试用例,对保存的打点数据进行校验。
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