[发明专利]用于日照计的高精度自动标定装置的校准方法

摘要

一种用于日照计高精度自动标定装置的校准方法，针对高精度自动标定装置中的直接辐射模拟系统、散射辐射模拟系统和日地位置调节系统，利用辐照计Ⅰ、辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ、经纬仪、光谱仪和23面体，通过标准的辐照不均匀度、辐照不稳定度和太阳高度角计算公式，建立了用于日照计高精度自动标定装置的校准链，实现了用于日照计高精度自动标定装置的高精度校准。

主权项

一种用于日照计高精度自动标定装置的校准方法，其特征在于，实现步骤如下：1)打开所述用于日照计高精度自动标定装置，运行直接辐射模拟系统、散射辐射模拟系统和日地位置调节系统；并备好经中国计量院定标的辐照计Ⅰ、辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ、经纬仪、光谱仪和23面体；2)针对所述直接辐射模拟系统，分别对其辐照度、辐照不均匀度、辐照不稳定度、太阳准直角以及光谱匹配度进行校准；3)针对所述散射辐射模拟系统，只对所述散射辐射模拟系统的辐照度、辐照不稳定度以及光谱匹配度进行校准；校准方法与所述直接辐射模拟系统对应指标的所述校准方法一致；4)针对所述日地位置调节系统，包括横滚调节装置的校准和俯仰调节装置的校准；利用所述经纬仪与所述23面体分别对所述横滚调节装置与所述俯仰调节装置的分辨率及定位精度进行测试，从被测轴角位置测量系统数字显示0位置起，记下所述经纬仪读数，以数字显示为准，依次使所述被测轴转动所述23面体规定的角度，记下所述经纬仪相应读数；5)基于模拟对比测试法，利用日照计模拟系统测量所述高精度自动标定装置的实际日照时数，与所述高精度自动标定装置理论日照时数对比，得出日照时数的模拟误差。