[发明专利]基于铁帽温差时间序列分析的瓷质绝缘子零值检测方法

摘要

基于铁帽温差时间序列分析的瓷质绝缘子零值检测方法，涉及一种劣化绝缘子诊断预测方法。运行中的绝缘子长期工作于复杂环境中，随着运行时间的增加，其绝缘性能和机械性能会慢慢下降。本发明采用了一种基于时间序列法的预测方法，把铁帽的温差作为特征量，提取出来的不同间隔的时间序列通过ARIMA模型进行自回归分析，当铁帽的温差达到导则中的数值时，就可以预测出绝缘子的低零值状态。本技术方案综合绝缘子铁帽温度特征以及时间序列法开展劣化绝缘子诊断预测，不存在检测盲区，可以提高红外热像法劣化绝缘子检测准确率。

主权项

1.基于铁帽温差时间序列分析的瓷质绝缘子零值检测方法，其特征在于包括以下步骤：1)采集不同间隔时间段的待诊断绝缘子串的红外热像图谱，提取绝缘子串红外热像图谱中每片绝缘子的铁帽温度作为特征量，完成数据的预处理工作；2)根据绝缘子所在变电站中测得的环境信息，计算出绝缘子所在位置环境要素的推定值；3)采用ARIMA模型对待绝缘子的铁帽温差进行拟合，并将与之相关的环境要素信息以传递函数模型的形式加入模型当中；对模型的残差进行检验，对于残差明显异常的时刻采用干预变量模型，增强拟合精度；4)将拟合后预测出来的绝缘子串铁帽温度分布曲线分别与标准曲线进行比较，找出畸变点，并按照以下准则进行劣化绝缘子判断：A、绝缘子串盘面温度分布曲线出现局部低点、绝缘子串铁帽温度分布曲线相同位置出现局部高点，判断该位置为低值绝缘子；B、绝缘子串盘面温度分布曲线出现局部低点、绝缘子串铁帽温度分布曲线相同位置出现局部低点，判断该位置为零值绝缘子；C、绝缘子串盘面温度分布曲线未出现局部低点、绝缘子串铁帽温度分布曲线出现局部高点，判断绝缘子串铁帽温度分布曲线出现明显局部高点位置为低值绝缘子；D、绝缘子串盘面温度分布曲线未出现局部低点、绝缘子串铁帽温度分布曲线出现明显局部低点或无畸变点，判断该绝缘子串无劣化绝缘子；5)根据判断结果，输出预测结果。