[发明专利]一种企业级SSD系统掉电功能测试方法、装置及系统在审
| 申请号： | 201711340591.7 | 申请日： | 2017-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN108009062A | 公开（公告）日： | 2018-05-08 |
| 发明（设计）人： | 李鹏;郑志林 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种企业级SSD系统掉电功能测试方法，包括：MCU接收掉电功能测试指令；MCU根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制SSD系统的上下电，进行掉电功能测试；其中，SSD系统包括MCU和电控开关。可见，该方法通过增加SSD系统内部的MCU对主供电电源的开关控制，以通过MCU控制主供电电源的通断，进而不使用外加测试设备，实现SSD系统掉电功能的测试，且由于每个SSD系统均有各自独立的MCU，则可同时批量进行掉电功能测试，效率较高，成本较低。此外，本发明还公开了一种企业级SSD系统掉电功能测试装置、系统及一种计算机可读存储介质，同样具有上述有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 企业级 ssd 系统 掉电 功能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种企业级SSD系统掉电功能测试方法，其特征在于，包括：MCU接收掉电功能测试指令；所述MCU根据预存储的测试参数，控制SSD系统主供电电源的电控开关的通断，以控制所述SSD系统的上下电，进行掉电功能测试；其中，所述SSD系统包括所述MCU和所述电控开关。
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