[发明专利]一种用于重金属离子检测的介孔硅材料及其制备方法在审
| 申请号： | 201711313351.8 | 申请日： | 2017-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN108031459A | 公开（公告）日： | 2018-05-15 |
| 发明（设计）人： | 禾苗 | 申请（专利权）人： | 大连智讯科技有限公司 |
| 主分类号： | B01J20/286 | 分类号： | B01J20/286;B01J20/30 |
| 代理公司： | 盘锦大工智讯专利代理事务所(特殊普通合伙) 21244 | 代理人： | 徐淑东;崔雪 |
| 地址： | 116000 辽宁省大连*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于重金属离子检测的介孔硅材料及其制备方法，用于重金属离子检测的介孔硅材料的制备方法，包括以下步骤：步骤1、首先将表面活性剂，碱或者酸加入到水中组成混合液；步骤2、然后向混合液中加入硅源，反应所得到的产物通过室温陈化或水热处理后，进行洗涤，过滤处理；步骤3、最后通过化学处理或者煅烧去除表面活性剂，得到所需的介孔硅材料；步骤4、采用嫁接的方法将巯基自组装于介孔硅材料表面。该方法检测快速，精度高，通用性佳。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 重金属 离子 检测 介孔硅 材料 及其 制备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于重金属离子检测的介孔硅材料的制备方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、首先将表面活性剂，碱或者酸加入到水中组成混合液；步骤2、然后向混合液中加入硅源，反应所得到的产物通过室温陈化或水热处理后，进行洗涤，过滤处理；步骤3、最后通过化学处理或者煅烧去除表面活性剂，得到所需的介孔硅材料；步骤4、采用嫁接的方法将巯基自组装于介孔硅材料表面。
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