[发明专利]一种孔深专用检测装置在审
申请号: | 201711309118.2 | 申请日: | 2017-12-11 |
公开(公告)号: | CN108007318A | 公开(公告)日: | 2018-05-08 |
发明(设计)人: | 伍良前;曾大晋;肖冬;周伟生 | 申请(专利权)人: | 重庆市银钢一通科技有限公司 |
主分类号: | G01B5/18 | 分类号: | G01B5/18 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 400033 重庆市沙*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本申请公开一种孔深专用检测装置,用于插入待测孔底部且其纵向中心轴线与待测孔的中心线轴线重合的标准量块;位于待测孔顶部且与所述标准量块的中心轴线相平行、用于判断待测孔深度是否合格的测量块;所述测量块包括用于检测待测孔所允许的最大孔深的最大孔深测量块和用于检测待测孔所允许的最小孔深的最小孔深测量块,以实现当所述标准量块的顶部在所述最大孔深测量块的顶部和所述最小孔深测量块的顶部之间时能够使待测孔的深度合格。应用该装置,所述标准量块分别与所述最大孔深测量块和所述最小孔深测量块的高度差均可有待测孔的公差转化而来,无需读数,节省了时间,提高了精度,故可以快速准确地检测孔深是否合格。 | ||
搜索关键词: | 一种 专用 检测 装置 | ||
【主权项】:
1.一种孔深专用检测装置,其特征在于,包括:用于插入待测孔底部且其纵向中心轴线与待测孔的中心线轴线重合的标准量块;位于待测孔顶部且与所述标准量块的中心轴线相平行、用于判断待测孔深度是否合格的测量块;其中,所述测量块包括用于检测待测孔所允许的最大孔深的最大孔深测量块和用于检测待测孔所允许的最小孔深的最小孔深测量块,以实现当所述标准量块的顶部在所述最大孔深测量块的顶部和所述最小孔深测量块的顶部之间时能够使待测孔的深度合格。
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