[发明专利]分布式测试装置及方法、存储介质和电子设备有效
| 申请号： | 201711294610.7 | 申请日： | 2017-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN109901985B | 公开（公告）日： | 2022-09-30 |
| 发明（设计）人： | 李一伟 | 申请（专利权）人： | 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 王卫忠;袁礼君 |
| 地址： | 100195 北京市海淀区杏石口路6*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种分布式测试装置及方法、存储介质和电子设备，涉及计算机测试技术领域。该分布式测试装置包括：配置模块，用于加载包括执行节点信息的全局配置和包括测试用例的本地配置；映射调度模块，用于根据预定映射规则配置目标存储节点，控制执行节点信息对应的执行节点执行测试用例；数据同步模块，用于将执行测试用例时产生的测试日志同步到目标存储节点。本公开可以实现执行节点与存储节点的灵活配置。 | ||
| 搜索关键词： | 分布式 测试 装置 方法 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
1.一种分布式测试装置，其特征在于，包括：配置模块，用于加载包括执行节点信息的全局配置和包括测试用例的本地配置；映射调度模块，用于根据预定映射规则配置目标存储节点，控制所述执行节点信息对应的执行节点执行所述测试用例；数据同步模块，用于将执行所述测试用例时产生的测试日志同步到所述目标存储节点。
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