[发明专利]复合材料层压结构超声概率试块内部缺陷的设置方法

摘要

本发明属于无损检测技术领域，涉及复合材料层压结构超声概率试块内部缺陷的设置方法。设置内部缺陷的步骤如下：确定内部缺陷的大小；确定内部缺陷的形状；确定内部缺陷的深度位置；确定内部缺陷阵列单元；确定内部缺陷数。本发明考虑了超声对缺陷的检出概率因素和缺陷重复性问题，能反映缺陷的重复性，能用于评价超声对复合材料层压结构中的缺陷检出概率，便于对检测工艺、检测人员、检测设备等进行综合优化，进而提高了超声检测结果的可靠性和准确性。

主权项

1.复合材料层压结构超声概率试块内部缺陷的设置方法，用于评定缺陷的超声检出概率，其特征是：设置内部缺陷的步骤如下：1.1、确定复合材料层压结构超声概率试块内部缺陷的大小：根据被检测复合材料层压结构的验收等级选择层压结构超声概率试块Fm中的缺陷大小，选取5个不同大小级差的内部缺陷，具体方法是：用φk表示不同大小内部缺陷的尺寸，k＝1、2、3、4、5，其中：φ1为要求检出的最小内部缺陷的尺寸；φ2为验收等级A对应的内部缺陷的尺寸；φ3为验收等级B对应的内部缺陷的尺寸；φ4为验收等级C对应的内部缺陷的尺寸；φ5为验收等级D对应的内部缺陷的尺寸；且φ1<φ2<φ3<φ4<φ5；1.2、确定复合材料层压结构超声概率试块内部缺陷的形状：复合材料层压结构超声概率试块内部缺陷的形状为圆形、矩形其中之一；1.3、确定复合材料层压结构超声概率试块内部缺陷的深度位置：内部缺陷的深度位置为h1、h2、h3三种不同深度位置，其中：h1位于被检测复合材料层压结构外表面第1个铺层与第2个铺层界面处；h2位于被检测复合材料层压结构中间两个或三个铺层界面处；h3为被检测复合材料层压结构内表面第1个铺层与第2个铺层界面处；1.4、确定复合材料层压结构超声概率试块内部缺陷阵列单元：内部缺陷阵列单元采用矩阵分布法则，按照上下排序、左右互换的分布规则，相邻内部缺陷在水平方向的间隔为ΔW、垂直方向间隔为ΔL，选择ΔW＝ΔL＝3φ5～5φ5；用Di×j表示内部缺陷阵列单元，它由i行、j列内部缺陷构成，i＝1、2、3、4、5，j＝1、2、3；用dkl(φk,hl)表示内部缺陷阵列单元中的内部缺陷，k＝1、2、3、4、5，l＝1、2、3，φk为第k个内部缺陷大小，hl为第k个内部缺陷的第l个深度位置；1.5、确定复合材料层压结构超声概率试块中的内部缺陷数：以Di×j代表内部缺陷阵列单元，复合材料层压结构超声概率试块中的内部缺陷由N个内部缺陷阵列单元Di×j构成，N＝1、2、3、4、5，每个内部缺陷阵列单元Di×j按照上下方式分布，相邻内部缺陷阵列单元Di×j的间距为ΔL。