[发明专利]一种基于微波校准技术的双谐振腔压力测试系统及方法在审
| 申请号： | 201711261548.1 | 申请日： | 2017-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN108051133A | 公开（公告）日： | 2018-05-18 |
| 发明（设计）人： | 张文强;宁曰民;刘金现 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G01L9/00 | 分类号： | G01L9/00;G01L27/00 |
| 代理公司： | 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 | 代理人： | 韩耀朋 |
| 地址： | 266555 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种基于微波校准技术的双谐振腔压力测试系统，压力参数实时提取与发射装置由微波式双谐振腔压力测试结构与发射天线组成，双谐振压力腔的工作频率相同，一个腔体受压力和温度的影响，另一个只受温度的影响；信号提取与处理装置由接收天线与处理模块组成，获取包含压力参数的微波谐振频率，由微波谐振频率与压力参数的关系解算出压力参数信息。本发明基于微波校准技术的双谐振腔压力测试系统有效去除温度对测试结果的影响，提高了接收到的谐振回波信号的信噪比。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 微波 校准 技术 谐振腔 压力 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于微波校准技术的双谐振腔压力测试系统，其特征在于，包括两部分，一是置于高温高压环境中的压力参数实时提取与发射装置，二是工作于常温常压下的信号提取与处理装置；压力参数实时提取与发射装置由微波式双谐振腔压力测试结构与发射天线组成，双谐振压力腔的工作频率相同，一个腔体受压力和温度的影响，另一个只受温度的影响，工作时，利用压力传输孔将被测环境的压力气体引入到其中一个谐振腔内部，不同压力与温度下，谐振腔内部将产生膨胀形变，而谐振频率也会随形变产生变化；另一个谐振腔，谐振频率变换只受到温度的影响，利用两个谐振腔的谐振频率变化差实现微波校准；信号提取与处理装置由接收天线与处理模块组成，获取包含压力参数的微波谐振频率，由微波谐振频率与压力参数的关系解算出压力参数信息。
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