[发明专利]一种电芯的电量管理和电流监控IC的烧录校验的方法有效

专利信息
申请号: 201711246565.8 申请日: 2017-12-01
公开(公告)号: CN107992317B 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: 陈思波;邓振东;曹志文;朱立湘;尹志明;林军 申请(专利权)人: 惠州市蓝微电子有限公司
主分类号: G06F8/65 分类号: G06F8/65;G01R31/385
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 陈卫;谭映华
地址: 516006 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种电芯的电量管理和电流监控IC的烧录校验的方法,包括电池信息的烧录方法和校验方法,校验方法包括电流校验方法和电量校验方法,所述的电量校验方法的步骤如下:首先,按照电量管理和电流监控IC的校准机制对多个电量管理和电流监控IC样品的电量值校准,并记录各个通道的校准系数;然后,对步骤S1中的校准系数进行数据处理;再次,把步骤S2中的处理后的校准系数以固定值的形式写入上位机软件中,烧录时从上位机软件中调用;最后,烧录过程中,监控校准不良的电量管理和电流监控IC产品数量,如果不良率达到设定值时返回步骤S1,如果不良率没有达到设定值则继续烧录。本发明用于提高电芯的电量管理和电流监控IC的烧录校准校验效率。
搜索关键词: 一种 电量 管理 电流 监控 ic 校验 方法
【主权项】:
一种电芯的电量管理和电流监控IC的烧录校验的方法,其特征在于,包括电池信息的烧录方法和校验方法,所述的校验方法包括电流校验方法和电量校验方法,所述的电量校验方法的具体步骤如下:S1、按照电量管理和电流监控IC的校准机制对多个的电量管理和电流监控IC样品的电量值校准,并记录各个通道的校准系数;S2、对步骤S1中的校准系数进行数据处理;S3、把步骤S2中的处理后的校准系数通过上位机软件以固定值的形式写入上位机临时内存中,烧录时上位机软件从上位机临时内存中进行调用;S4、烧录过程中,监控校准不良的电量管理和电流监控IC产品数量,如果不良率达到设定值时返回步骤S1,如果不良率没有达到设定值则继续烧录。
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