[发明专利]一种基于微/纳米薄膜的电涡流力和/或变形和/或压力检测方法有效
| 申请号： | 201711228380.4 | 申请日： | 2017-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN108106771B | 公开（公告）日： | 2020-09-18 |
| 发明（设计）人： | 杨兴;胡越铭;任育宇;王彬;姚嘉林 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01L9/02 | 分类号： | G01L9/02 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 张文宝 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种基于微/纳米薄膜的电涡流力/变形/压力检测方法，其特征在于：所述检测方法包括：将微/纳薄膜置于被检测物的表面或嵌入其内侧，为提高检测灵敏度也可在微/纳薄膜表面或内部制作微纳结构；设置检测电路，将所述检测电路的检测单元置于所述被测物外侧，所述检测单元产生交变磁场；被检测物受力/变形/压力的变化会导致微/纳米薄膜产生变形，从而导致了微/纳米薄膜上感应电流发生变化，感应电流发生变化后，进而导致所述检测单元中的电感线圈的阻抗发生变化，基于所述阻抗变化即可感测被测物的力/变形/压力变化。该检测方法以无线、无源的检测方式实现信号检测，且方法中传感器的结构简单，稳定性高、可实现高灵敏度非接触的应变、应力、压力等信号测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 纳米 薄膜 涡流 变形 压力 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于微/纳米薄膜的电涡流力/变形/压力检测方法，其特征在于包括：将微/纳米薄膜置于被检测物的表面或嵌入其内侧；设置检测电路，将所述检测电路的检测单元置于所述被测物外侧或嵌入其内侧，所述检测单元产生交变磁场；所述交变磁场在所述微/纳米薄膜表面生成涡流状感应电流，所述感应电流产生新的感应磁场与所述交变磁场的方向相反，所述被检测物的力/变形/压力的变化会导致所述微/纳米薄膜产生变形，从而导致了所述微/纳米薄膜上感应电流发生变化，感应电流发生变化后，感应电流产生的新的感应磁场将发生变化，进而导致所述检测单元中的电感线圈的阻抗发生变化，监测所述阻抗变化即可感测所述被测物的力/变形/压力变化。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学，未经清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711228380.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
