[发明专利]一种用于质谱和光电子速度成像共同探测的装置有效
| 申请号： | 201711225994.7 | 申请日： | 2017-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN108037525B | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 唐紫超;王永天;施再发;张将乐;刘方刚;王可 | 申请（专利权）人： | 厦门大学 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36;H01J49/26 |
| 代理公司： | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人： | 马应森 |
| 地址： | 361005 *** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 一种用于质谱和光电子速度成像共同探测的装置，涉及质谱及光电子成像。设有质谱MCP检测器、光电子速度成像透镜系统、成像探测系统、第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器、第3螺旋直线导入器、第1滑轨和第2滑轨；所述质谱MCP检测器与第3螺旋直线导入器相连，所述第3螺旋直线导入器调节成像探测系统的垂直高度，第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器与光电子速度成像透镜系统相连，旋转第1螺旋直线导入器和第2螺旋直线导入器调节光电子速度成像透镜系统的水平位置，光电子速度成像透镜系统设在第1滑轨和第2滑轨上。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 光电子 速度 成像 共同 探测 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于质谱和光电子速度成像共同探测的装置，其特征在于设有质谱MCP检测器、光电子速度成像透镜系统、成像探测系统、第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器、第3螺旋直线导入器、第1滑轨和第2滑轨；所述质谱MCP检测器与第3螺旋直线导入器相连，所述第3螺旋直线导入器调节成像探测系统的垂直高度，第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器与光电子速度成像透镜系统相连，旋转第1螺旋直线导入器和第2螺旋直线导入器调节光电子速度成像透镜系统的水平位置，光电子速度成像透镜系统设在第1滑轨和第2滑轨上；所述光电子速度成像透镜系统设有参考电极片和三场加速电极片。
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