[发明专利]基于光纤传感器的透明薄膜厚度检测系统在审
| 申请号： | 201711198236.0 | 申请日： | 2017-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN109839069A | 公开（公告）日： | 2019-06-04 |
| 发明（设计）人： | 葛秋红 | 申请（专利权）人： | 沈阳益泰科信息咨询有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 110000 辽宁省沈阳市*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及检测技术领域，尤其涉及一种基于光纤传感器的透明薄膜厚度检测系统。其动态性能良好，基于三圈同轴式光纤排列方式的光纤探头，满足薄膜厚度的测量需求。包括光纤探头、前置器、数据采集卡及计算机；所述光纤探头与前置器相连，所述前置器与数据采集卡相连，所述数据采集卡与计算机相连；所述光纤探头包括接收光纤内圈、接收光纤外圈及入射光纤。所述前置器包括2个光电转换模块、2个低通滤波模块、光源、硬件比值模块及稳压电源模块。 | ||
| 搜索关键词： | 光纤探头 前置器 数据采集卡 厚度检测系统 光纤传感器 接收光纤 透明薄膜 三圈同轴式光纤 低通滤波模块 光电转换模块 检测技术领域 稳压电源模块 比值模块 测量需求 动态性能 排列方式 入射光纤 计算机 内圈 光源 薄膜 | ||
【主权项】：
1.基于光纤传感器的透明薄膜厚度检测系统，其特征在于，包括光纤探头、前置器、数据采集卡及计算机；所述光纤探头与前置器相连，所述前置器与数据采集卡相连，所述数据采集卡与计算机相连；所述光纤探头包括接收光纤内圈、接收光纤外圈及入射光纤。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沈阳益泰科信息咨询有限公司，未经沈阳益泰科信息咨询有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711198236.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：路面标线线激光检测装置
- 下一篇：一种制动器气隙检测装置
