[发明专利]红外-可见双波段光电探测系统及光轴偏角测量方法有效
| 申请号： | 201711184138.1 | 申请日： | 2017-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN107991686B | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 于洵;韩峰;聂亮;陶禹;陈靖;刘宝元;路绍军;张维光;张祥伟;马群;尚小燕;郭钰琳 | 申请（专利权）人： | 西安工业大学 |
| 主分类号： | G01S17/89 | 分类号： | G01S17/89;G01S7/481;G01M11/02;G02B17/06;G02B27/10;H04N5/225;H04N5/33;H04N5/372;H04N17/00 |
| 代理公司： | 北京东方盛凡知识产权代理事务所(普通合伙) 11562 | 代理人： | 王颖 |
| 地址： | 710021 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种红外‑可见双波段光电探测系统及光轴偏角测量方法，光电探测系统包括反射系统、分光镜、位于分光镜反射光路上的可见光成像单元和透射光路中波红外光成像单元，以及光轴偏角测量单元，光轴偏角测量方法包括：一、初始化CCD传感器并获取背景灰度图像；二、中波红外光轴对中；三、可见光光点成像；四、可见光光点图像的获取；五、可见光光点图像的质心坐标获取；六、光轴偏角的计算。本发明结合可见光波段光学系统和中波红外波段光学系统的优点，提高了观测、侦查效率，实现远距离、高分辨率以及全天候成像，且有效提高成像质量，光轴偏角测量单元可测量可见光轴和中波红外光轴的偏角，测量整个光电探测系统的稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 红外 可见 波段 光电 探测 系统 光轴 偏角 测量方法 | ||
【主权项】：
红外‑可见双波段光电探测系统，其特征在于：包括设置在被测物(1)反射光路上的反射系统、用于将中波红外波和可见光波进行分束的分光镜(4)、位于分光镜(4)透射光路上可见光成像单元和位于分光镜(4)反射光路上的中波红外光成像单元，以及位于所述反射系统反射光路上的光轴偏角测量单元；所述可见光成像单元包括依次位于分光镜(4)透射光路上的可见光路补偿透镜组(5‑1)和用于采集可见光成像的可见光探测器(5‑2)；所述中波红外光成像单元包括位于分光镜(4)反射光路上的中波红外反射镜(6‑1)，所述中波红外反射镜(6‑1)的反射光路上依次布设有中波红外光路补偿透镜组(6‑2)、中波红外光路中继透镜组(6‑3)和冷光阑(6‑4)，以及用于采集中波红外光成像的中波红外探测器(6‑5)；所述光轴偏角测量单元包括位于所述反射系统反射光路上的卡塞格林平行光管(7‑2)，所述卡塞格林平行光管(7‑2)的反射光路上设置有多光谱综合目标靶(7‑6)和多光谱光源(7‑7)，所述卡塞格林平行光管(7‑2)和多光谱综合目标靶(7‑6)之间的光路上布设有半透半反镜(7‑4)，所述卡塞格林平行光管(7‑2)和半透半反镜(7‑4)之间的光路上设置有衰减片(7‑3)，衰减片(7‑3)包括用于衰减可见光的可见光衰减片和用于衰减中波红外光的中波红外光衰减片，所述多光谱综合目标靶(7‑6)设置在目标靶多维调整座(7‑8)上，所述半透半反镜(7‑4)的反射光路上具有CCD传感器(7‑5)，CCD传感器(7‑5)的输出端与图像处理模块(7‑10)连接。
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