[发明专利]电路性能自动测试系统在审
| 申请号： | 201711172775.7 | 申请日： | 2017-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN108008282A | 公开（公告）日： | 2018-05-08 |
| 发明（设计）人： | 周豪 | 申请（专利权）人： | 成都欧远信电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610000 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了电路性能自动测试系统，所述系统包括：固定单元，用于对待测试电路板进行固定；外观检测单元，用于对待测试电路板进行外观检测；尺寸检测单元，用于对待测试电路板进行尺寸检测；电路检测，用于对待测试电路板进行电路性能检测；解决了现有的电路性能测试效率较低和成本较高的技术问题，实现了测试系统设计合理，电路性能测试效率较高成本较低的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 性能 自动 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.电路性能自动测试系统，其特征在于，所述系统包括：固定单元，用于对待测试电路板进行固定；外观检测单元，用于对待测试电路板进行外观检测；尺寸检测单元，用于对待测试电路板进行尺寸检测；电路检测，用于对待测试电路板进行电路性能检测。
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