[发明专利]一种高温条件半透明材料光谱发射率测量装置及方法

摘要

本发明公开一种高温条件半透明材料光谱发射率测量装置及方法，该装置包括傅里叶红外光谱仪、黑体辐射源、转换光路、加热装置、样品腔装置、导轨、数据采集器及个人计算机，所述傅里叶红外光谱仪与第一个人计算机连接；所述的黑体辐射源由数字式PID控制器控制；加热装置由温度控制器控制；样品腔放置在导轨上，半透明样品固定在样品腔上，且样品的表面固定一个热电偶，该热电偶与数据采集器连接，而数据采集器与第二个人计算机相连。本发明通过快速移动的样品消除加热装置对半透明材料发射率测量的背景辐射来测量发射率，发射率测量原理与不透明材料发射率测量原理一致；装置设计构造简洁，操作步骤简便，测量精度高。

主权项

1.一种高温条件半透明材料光谱发射率测量装置，其特征在于包括傅里叶红外光谱仪(1)、黑体辐射源(2)、转换光路(4)、加热装置(5)、样品腔装置(7)、导轨(8)、数据采集器(9)及个人计算机(10，11)，所述傅里叶红外光谱仪(1)与第一个人计算机(11)连接，第一个人计算机(11)对傅里叶红外光谱仪(1)进行操作与控制；所述的黑体辐射源(2)由数字式PID控制器(3)控制；加热装置(5)由温度控制器(6)控制；样品腔(7)放置在导轨(8)上，半透明样品(12)固定在样品腔(7)上，且样品(12)的表面固定一个热电偶(13)，该热电偶(13)与数据采集器(9)连接，而数据采集器(9)与第二个人计算机(10)相连，该第二个人计算机(10)实现对温度的数据收集；所述转换光路(4)由一个90°离轴抛物面镜(14)、一个可旋转90°的离轴抛物面(15)及一面长方形平面镜(17)组成；所述的傅里叶红外光谱仪(1)的检测入口(16)的中心轴线、转换光路(4)的抛物面镜(14)的镜面中心与垂直轴线(a)共线；转换光路(4)的可旋转的抛物面镜(15)的镜面中心、黑体辐射源(2)的入口的中心轴线及样品腔装置(7)的中心轴线与水平轴线(b)共线；其中样品腔装置(7)上的样品(12)前表面至可旋转的抛物面镜(15)的镜面中心的距离L1与黑体辐射源(2)至可旋转的抛物面镜(15)的镜面中心的距离L2相等；所述的样品腔装置(7)由样品腔(7‑1)、支架(7‑2)、转动盘(7‑3)、底座(7‑4)组成，与导轨(8)一起移动样品；所述的样品腔(7‑1)为铝制圆管，支架(7‑2)由中间开了通孔的方形的铝材以及圆柱形不锈钢组成，转动盘(7‑3)为带有圆周角刻度的圆形不锈钢，底座(7‑4)为方形不锈钢；样品腔(7‑1)与支架(7‑2)通过螺纹连接，支架(7‑2)将转动盘(7‑3)及底座(7‑4)连在一起，转动盘(7‑3)可带动支架(7‑2)与样品腔(7‑1)转动，底座(7‑4)放置在导轨(8)上。