[发明专利]一种存储介质和存储设备性能的测试方法、装置及设备

摘要

本发明公开了一种对存储设备性能进行测试的方法，包括选择存储设备的输入输出模型并设置与输入输出模型对应的测试参数以对存储设备的输入输出性能进行测试；根据测试参数获取与存储设备的输入输出信息对应的日志文件和存储设备的标识符；将日志文件中与标识符对应的测试数据存储至以标识符命名的文档；对文档中的测试数据进行分析处理以得到测试结果。该方法，可以根据测试参数获取与存储设备的输入输出信息对应的日志文件和存储设备的标识符，然后可以根据存储设备的标识符将获取的测试数据分开存储，进而解决了测试结果不直观的问题，降低了测试复杂度。另外本发明还公开了一种对存储设备性能进行测试的装置、设备及可读存储介质，效果如上。

主权项

一种对存储设备性能进行测试的方法，其特征在于，包括：选择存储设备的输入输出模型并设置与所述输入输出模型对应的测试参数以对所述存储设备的输入输出性能进行测试；根据所述测试参数获取与所述存储设备的输入输出信息对应的日志文件和所述存储设备的标识符；将所述日志文件中与所述标识符对应的测试数据存储至以所述标识符命名的文档；对所述文档中的所述测试数据进行分析处理以得到测试结果。