[发明专利]手机外壳抗压检测试验装置在审

专利信息
申请号: 201711040766.2 申请日: 2017-10-31
公开(公告)号: CN107702994A 公开(公告)日: 2018-02-16
发明(设计)人: 蔡墩深 申请(专利权)人: 芜湖辉灿电子科技有限公司
主分类号: G01N3/10 分类号: G01N3/10;G01N3/02;G01N3/06
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司32243 代理人: 胡定华
地址: 241000 安徽省芜湖*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提供一种手机外壳抗压检测试验装置,包括底座,底座上设置有放置架,放置架两端设置有固定卡夹,放置架上方设置有下压气缸,下压气缸下端设置有下压块,通过下压气缸带动下压块对放置架上的手机外壳进行下压,底座上设置有接触传感器,接触传感器下端设置有升降电机,通过升降电机带动接触传感器上升对手机外壳底部进行接触,进而检测其是否变形。通过放置架对手机外壳进行放置,并且通过下压气缸带动下压块对手机外壳进行下压,并通过接触传感器对手机外壳的变形的情况进行检测,自动完成手机外壳的抗压试验,并且通过受力传感器对最大抗压力进行检测记录,提高检测精度,设置调整轨道,使其可以适用于不同规格的手机外壳。
搜索关键词: 手机外壳 抗压 检测 试验装置
【主权项】:
一种手机外壳抗压检测试验装置,包括底座(1),所述底座(1)上设置有放置架(2),所述放置架(2)两端设置有固定卡夹(3),其特征在于:所述放置架(2)上方设置有下压气缸(4),所述下压气缸(4)下端设置有下压块(5),通过下压气缸(4)带动下压块(5)对放置架(2)上的手机外壳进行下压,所述底座(1)上设置有接触传感器(6),所述接触传感器(6)下端设置有升降电机(7),通过升降电机(7)带动接触传感器(6)上升对手机外壳底部进行接触,进而检测其是否变形。
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