[发明专利]用于测试功率补偿器中的子模块性能的合成测试电路及其测试方法有效
| 申请号： | 201711003937.4 | 申请日： | 2017-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN108072826B | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 郑容昊;白承泽;金荣佑;李镇熙;鲁义哲;郑在宪 | 申请（专利权）人： | LS产电株式会社;釜庆大学校产学协力团 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 崔炳哲 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于测试功率补偿器中的子模块性能的合成测试电路包括作为测试子模块性能的对象的子模块测试单元、电流源和控制器。电流源连接到子模块测试单元以向子模块测试单元供应电压使得具有在子模块测试单元中设置的容量的充电电压被存储以便操作子模块测试单元。控制器被配置为执行控制以使用存储的充电电压来执行子模块测试单元的子模块性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 功率 补偿 中的 模块 性能 合成 电路 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试功率补偿器中的子模块性能的合成测试电路，包括：子模块测试单元，其是对所述子模块性能进行测试的对象；电流源，其连接到所述子模块测试单元以向所述子模块测试单元供应电压使得具有在所述子模块测试单元中设置的容量的充电电压被存储以便操作所述子模块测试单元；以及控制器，其被配置为进行控制以使用所存储的充电电压来测试所述子模块测试单元的子模块性能。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于LS产电株式会社;釜庆大学校产学协力团，未经LS产电株式会社;釜庆大学校产学协力团许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711003937.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：检查装置
- 下一篇：有自测试能力的集成电路装置和对集成电路自测试的方法
