[发明专利]多段曝光图像传感器的成像校正方法有效
| 申请号： | 201710998465.4 | 申请日： | 2017-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN107592472B | 公开（公告）日： | 2019-12-20 |
| 发明（设计）人： | 邵科;马伟剑 | 申请（专利权）人： | 思特威(上海)电子科技有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/235 | 分类号： | H04N5/235 |
| 代理公司： | 31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 王仙子 |
| 地址： | 200233 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多段曝光图像传感器的成像校正方法，判断每个像素点的实时像素值Pn是否经过各自的像素值拐点，若经过至少一个像素值拐点，则根据像素值Pn经过的最后一个像素值拐点对像素值Pn进行偏差校正，校正后的像素值为Pn(x)＝Pn+Pa(z)‑Pn(z)，其中，z表示所述像素值Pn经过的最后一个像素值拐点的序号。本发明通过对多段曝光图像传感器的像素点上经过像素值拐点的像素值进行拐点固定偏差校正，消除了电压值拐点的固定偏差给像素值造成的影响，提高了像素值的精确度，从而提高了输出图像质量；每个像素点单独进行拐点标定与偏差校正，可减少曝光光源的不一致性对校正结果的影响；将标定数据存储于OTP中，方便多段图像传感器的大规模量产测试与标定校正。 | ||
| 搜索关键词： | 曝光 图像传感器 成像 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种多段曝光图像传感器的成像校正方法，其特征在于，包括步骤：/n提供多段曝光的图像传感器，采集每个像素点上输出电压V与曝光时间T的多段曝光响应曲线，所述多段曝光响应曲线含有至少一个拐点；/n通过所述多段曝光响应曲线获取每个像素点的电压值拐点Vn(m)以及所有像素点电压值拐点的均值Va(m)，其中，Vn(m)表示第n个像素点的第m个电压值拐点，Va(m)表示所有像素点的第m个电压值拐点的均值，n、m取正整数；/n针对实时获取的图像，采用均匀量化方法将每个像素点的实时输出电压值Vn、电压值拐点Vn(m)以及电压值拐点的均值Va(m)量化成像素值，得到实时像素值Pn、像素值拐点Pn(m)以及像素值拐点的均值Pa(m)；/n判断每个像素点的实时像素值Pn是否经过各自的像素值拐点，若经过至少一个像素值拐点，则根据实时像素值Pn经过的最后一个像素值拐点对实时像素值Pn进行偏差校正，得到校正后的像素值为Pn(x)＝Pn+Pa(z)-Pn(z)，其中，z表示实时像素值Pn经过的最后一个像素值拐点的序号。/n
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