[发明专利]检测电路在审
| 申请号： | 201710990360.4 | 申请日： | 2017-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN107643453A | 公开（公告）日： | 2018-01-30 |
| 发明（设计）人： | 王科;李立;吴文贤;郭伟林 | 申请（专利权）人： | 珠海格力电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/18 | 分类号： | G01R29/18 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人： | 赵囡囡 |
| 地址： | 519070 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测电路。其中，该检测电路包括检测电路，包括分压电阻，与三相电相连接；三相整流桥结构，输入端与分压电阻相连接，用于整流；光耦，连接在三相整流桥的输出端；上拉电阻，连接在光耦中光敏三极管的集电极；MCU检测IO口，连接在光耦的输出端，用于在光耦导通或者关断的状态下输出高电平或者低电平，其中，在MCU检测IO口为低电平时，确定三相电不缺相。本发明解决了现有的检测电路复杂且不安全的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 电路 | ||
【主权项】：
一种检测电路，其特征在于，包括：分压电阻，与三相电相连接；三相整流桥结构，输入端与所述分压电阻相连接，用于整流；光耦，连接在所述三相整流桥的输出端；上拉电阻，连接在所述光耦中光敏三极管的集电极；MCU检测IO口，连接在所述光耦的输出端，用于在所述光耦导通或者关断的状态下输出高电平或者低电平，其中，在所述MCU检测IO口为低电平时，确定所述三相电不缺相。
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