[发明专利]一种用于形变检测的电路及薄膜在审

专利信息
申请号: 201710985307.5 申请日: 2017-10-20
公开(公告)号: CN107816937A 公开(公告)日: 2018-03-20
发明(设计)人: 李雅华;刘育荣;黄明益;卢文哲 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: G01B7/16 分类号: G01B7/16;G01B11/16
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 代理人: 梁挥,许志影
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明揭露一种用于形变检测的电路及薄膜,配置于待测表面上,该电路包括多个像素单元,包括(n/2)行*m列,每一像素单元具有第一输入端、第二输入端以及输出端,该第一输入端用于接收第一电压信号,该第二输入端用于接收脉冲信号,该输出端用于输出电流信号,当该电流信号发生变化时,则确定对应的该像素单元的面积发生变化,该待测表面发生了形变。本发明的电路及薄膜,当所输出的电流信号发生变化时,则说明对应的像素单元的面积发生了变化,而由于电路及薄膜贴附于待测表面上,则说明待测表面发生了形变,从而便于使用者及时检测及更换异常品,避免了意外事故的发生。且本发明的检测方式直观,操作简便。
搜索关键词: 一种 用于 形变 检测 电路 薄膜
【主权项】:
一种用于形变检测的电路,配置于待测表面上,其特征在于,该电路包括:多个像素单元,包括(n/2)行*m列,每一像素单元具有第一输入端、第二输入端以及输出端,该第一输入端用于接收第一电压信号,该第二输入端用于接收脉冲信号,该输出端用于输出电流信号,当该电流信号发生变化时,则确定对应的该像素单元的面积发生变化,该待测表面发生了形变。
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