[发明专利]一种基于高光谱成像技术的纺织品材料识别方法及系统在审
申请号: | 201710951502.6 | 申请日: | 2017-10-13 |
公开(公告)号: | CN107843593A | 公开(公告)日: | 2018-03-27 |
发明(设计)人: | 辛斌杰;孟想;刘岩;邓娜;李佳平 | 申请(专利权)人: | 上海工程技术大学 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84 |
代理公司: | 上海唯智赢专利代理事务所(普通合伙)31293 | 代理人: | 刘朵朵 |
地址: | 201620 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及纺织品材料,属于纺织品识别领域。一种基于高光谱成像技术的纺织品材料识别方法,其特征在于通过对待检测纺织品的高光谱图像进行处理,提取该高光谱图像的每个像素的光谱曲线的特征波长,由设置的包括多种纯纺纺织品样本的特征波长的标准波谱库建立的分类器进行识别,所述分类器对待检测纺织品上的每个像素的成分进行识别,得到待检测纺织品的材料组成。本发明的方法和系统避免了传统纺织品材料识别化学鉴别过程中对环境产生的污染和对操作人员人身安全的威胁,降低了物理鉴别过程中的不可靠性,精简了系统鉴别过程中的繁琐程序,减少了利用精密仪器进行鉴别的成本,具有可靠、稳定的优点,安全环保,且数据可供后续持续使用。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 光谱 成像 技术 纺织品 材料 识别 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种基于高光谱成像技术的纺织品材料识别方法,其特征在于:通过对待检测纺织品的高光谱图像进行处理,提取该高光谱图像的每个像素的光谱曲线的特征波长,由设置的包括多种纯纺纺织品样本的特征波长的标准波谱库建立的分类器进行识别,所述分类器对待检测纺织品上的每个像素的成分进行识别,得到待检测纺织品的材料组成。
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