[发明专利]一种光子计数激光干涉测距方法有效
| 申请号： | 201710950794.1 | 申请日： | 2017-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN107942339B | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 吴光;庞程凯;伍狄;李召辉;王永;王煜蓉;申光跃;郑天翔;吕阳 | 申请（专利权）人： | 华东师范大学 |
| 主分类号： | G01S17/48 | 分类号： | G01S17/48;G01B11/02 |
| 代理公司： | 上海申蒙商标专利代理有限公司 31214 | 代理人： | 徐小蓉 |
| 地址： | 200062 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光子计数激光干涉测距方法，该方法将激光干涉仪与激光三角测距相结合，采用激光三角测距的方式测量待测距物体的低精度距离并且使用待测距物体的低精度距离消除激光干涉仪中多波长距离不确定问题，最终实现高精度的非合作目标距离测量。本发明的优点是，通过在干涉中单光子探测器的应用，能够对极微弱的回波光进行探测，从而实现非合作目标的干涉测距；同时，结合本发明中的三角测距模块，仅采用少数波长的激光，解决了大量程干涉周期不确定的问题，增加测量的范围。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光子 计数 激光 干涉 测距 方法 | ||
【主权项】：
一种光子计数激光干涉测距方法，其特征在于所述方法包括以下步骤：1）将待测距物体表面作为激光干涉仪的第一反射镜面，使用多波长激光光源作为所述激光干涉仪的光源；使用所述激光干涉仪依次采用n种不同波长的激光对所述待测距物体进行测距，通过测量得到所述激光干涉仪采用波长为λk的激光时所述激光干涉仪的激光干涉仪相位差φk，其中n为大于或等于2的正整数，k为大于0且小于等于n的正整数；2）将激光三角测距模块朝向所述待测距物体的反射面，使用所述激光干涉仪以及所述激光三角测距模块采用激光三角测距的方式测量所述待测距物体的低精度距离D'；3）使用各种波长的激光对应的激光干涉仪相位差以及所述低精度距离D'计算所述待测距物体的高精度距离D。
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