[发明专利]一种基于FPGA的温度传感器动态测试方法在审

专利信息
申请号: 201710918000.3 申请日: 2017-09-30
公开(公告)号: CN107748021A 公开(公告)日: 2018-03-02
发明(设计)人: 翁润滢;孙斌;赵玉晓 申请(专利权)人: 中国计量大学
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310018 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种基于FPGA的温度传感器动态测试方法。本发明利用FPGA控制器同时采集不同的温度传感器信号,实现不同种类的温度传感器动态特性的同步测试。使用FPGA控制器根据模块的采集通道,可以一次采集多种不同类型的温度传感器,并且可以根据不同温度传感器的特性设置不同采样时间,实现多个不同类型传感器动态特性的同步测试。计算机通过接口与FPGA控制器进行通信,使用相应识别算法自动分析传感器的动态特性。由于本发明利用控制器的FPGA的编译方法,提高了数据的实时性和精确性(μs级),并且利用了FPGA的并行运行的优点,多路信号可以同步采集。与传统的传感器动态测试方法相比,其大大提高了工作效率,获取数据期间产生的误差也得到了极大的改善。
搜索关键词: 一种 基于 fpga 温度传感器 动态 测试 方法
【主权项】:
一种基于FPGA的温度传感器动态测试方法,其特征在于:系统主要包括FPGA采集控制模块(1)、多路信号采集模块(2)、计算机(3)、恒温槽(箱)(4)、恒温槽(箱)控制模块(5);采集模块(2)与采集控制模块(1)相连,来实现采样频率的控制,控制模块(1)通过以太网与计算机(3)相连,实现数据的传输;将采集模块(2)上的温度传感器浸入到恒温油槽(箱)中(4),实现温度的采集,同时使用将恒温槽(箱)控制器(5)与计算机(3)通过RS232相连,来实现油槽(箱)温度的控制;通过对计算机(3)接收数据的计算,利用软件识别算法一次可以得到多个不同类型的温度传感器的动态特性。
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