[发明专利]计算机断层成像中基于正弦图的散射射线校正有效
| 申请号： | 201710855234.8 | 申请日： | 2017-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN107837090B | 公开（公告）日： | 2021-08-17 |
| 发明（设计）人： | M·彼得希尔卡 | 申请（专利权）人： | 西门子医疗有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;G01N23/046;G06T11/00 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及计算机断层成像中基于正弦图的散射射线校正。公开了一种用于投影测量数据的散射射线校正的方法(10)，该投影测量数据由一个计算机断层成像系统(31)来记录，该方法(10)包括用于记录(11)、定位(12)、标识(13)和校正(14)的多个步骤。在记录(11)步骤中，从多个投影角度(1)记录投影测量数据，并且将该投影测量数据获取在一个正弦图中。在定位步骤(12)中，在关于一个投影角度(1)的一个预定义角度范围(3)中，定位该正弦图的投影测量数据中的多个特征。在标识步骤(13)中，通过一种经训练的标识算法，从所定位的多个特征中标识针对该投影角度(1)的一个散射分布。在校正步骤(14)中，基于该散射分布，校正该投影角度(1)的投影测量数据。 | ||
| 搜索关键词： | 计算机 断层 成像 基于 正弦 散射 射线 校正 | ||
【主权项】：
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