[发明专利]热电元器件扩散阻挡层的筛选方法有效
| 申请号： | 201710852233.8 | 申请日： | 2017-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN109524536B | 公开（公告）日： | 2020-03-17 |
| 发明（设计）人： | 顾明;柏胜强;吴洁华;夏绪贵;李小亚;吴汀;宋君强;陈立东 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号： | H01L35/34 | 分类号： | H01L35/34 |
| 代理公司： | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人： | 曹芳玲;熊子君 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及热电元器件扩散阻挡层的筛选方法，包括以下步骤：（1）确定热电元器件的候选阻挡层材料；（2）将候选阻挡层材料粉末和作为基质的热电材料粉末按一定配比混合均匀得到混合粉末；（3）将所得混合粉末致密化，得到致密体；（4）对致密体进行热持久处理；（5）观测经热持久处理的样品中各候选阻挡层材料颗粒与基质材料间的界面扩散情况，筛选出与基质材料界面稳定的阻挡层材料。 | ||
| 搜索关键词： | 热电 元器件 扩散 阻挡 筛选 方法 | ||
【主权项】：
1.一种热电元器件扩散阻挡层的筛选方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）确定热电元器件的候选阻挡层材料；（2）将候选阻挡层材料粉末和作为基质的热电材料粉末按一定配比混合均匀得到混合粉末；（3）将所得混合粉末致密化，得到致密体；（4）对致密体进行热持久处理；（5）观测经热持久处理的样品中各候选阻挡层材料颗粒与基质材料间的界面扩散情况，筛选出与基质材料界面稳定的阻挡层材料。
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