[发明专利]一种野外岩石结构面粗糙度的量测及计算方法有效
| 申请号： | 201710802102.9 | 申请日： | 2017-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN107655459B | 公开（公告）日： | 2020-11-27 |
| 发明（设计）人： | 章杨松;许文涛;宣孔军 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01C11/34 | 分类号： | G01C11/34 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 朱显国 |
| 地址： | 210094 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种野外岩石结构面粗糙度的量测及计算方法，步骤如下：利用平直木条构建闭合的控制框架，对控制框架进行校准；将校准后的控制框架固定在待测结构面上，选择不同的位置对待测结构面进行拍摄，拍摄范围包含整个框架；利用照片建立野外岩石结构面的三维点云模型；利用三维点云模型提取结构面任一方向的粗糙度轮廓曲线；利用结构面粗糙度轮廓曲线计算结构面粗糙度分形维数；利用岩石结构面粗糙度分形维数，计算出对应的岩石结构面粗糙度系数。本发明提高了计算精度和效率，同时适用室内和野外环境。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 野外 岩石 结构 粗糙 计算方法 | ||
【主权项】：
一种野外岩石结构面粗糙度的量测及计算方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、利用平直木条构建闭合的控制框架，所述控制框架的木条位于不同的平面，在木条贴上摄影测量标记点标签纸形成拍摄控制点和建模校准点；步骤2、对控制框架进行校准，使其达到设定的精度要求；步骤3、将校准后的控制框架固定在待测结构面上，选择不同的位置对待测结构面进行拍摄，拍摄范围包含整个框架；步骤4、利用步骤3得到的照片，建立野外岩石结构面的三维点云模型；步骤5、利用步骤4建立的三维点云模型提取结构面任一方向的粗糙度轮廓曲线；步骤6、利用步骤5提取的结构面粗糙度轮廓曲线计算结构面粗糙度分形维数；步骤7、利用步骤6得到的岩石结构面粗糙度分形维数，计算出对应的岩石结构面粗糙度系数。
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